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- 放大器
- 脈沖群發(fā)生器/模擬試驗(yàn)器
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- 晶體管測(cè)試儀
- 數(shù)字源表
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探頭負(fù)載更小的高精度高頻率測(cè)量
為了測(cè)試需要*小負(fù)載的高阻抗、高頻率電路,我們的有源電壓探頭系列能夠提供正確的信號(hào)帶寬和更低的探頭負(fù)載,幫助捕獲單端地面參考信號(hào)。對(duì)于無(wú)源探測(cè)解決方案會(huì)造成很大負(fù)載的小型幾何應(yīng)用來(lái)說(shuō),有源探頭提供了一種更好的選擇。
有源探頭
TAP2500TAP3500
特性及優(yōu)點(diǎn)
杰出的電氣性能
高帶寬探頭
快速上升時(shí)間的探討
出色的信號(hào)保真度
≤0.8 pF的輸入電容
的40 K輸入電阻
4 V至+4 V輸入動(dòng)態(tài)范圍
-10 V至+10伏直流電輸入失調(diào)范圍
±為30 V(直流+交流峰值)*大輸入電壓(Nondestruct)
多功能機(jī)械性能
為小緊探頭探測(cè)電路元件的小幾何
啟用連接被測(cè)設(shè)備附件配件的SMD器件小到0.5毫米間距
穩(wěn)健性設(shè)計(jì)可靠性
易于使用
直接連接到DPO7000和DPO4000系列示波器使用新的TekVPI探頭接口
提供自動(dòng)縮放和單位對(duì)示波器讀數(shù)顯示
容易獲得示波器探針探頭狀態(tài)/菜單顯示和診斷信息控制探討直流偏移
應(yīng)用
驗(yàn)證,調(diào)試和高速特性設(shè)計(jì)
信號(hào)完整性,抖動(dòng)和定時(shí)分析
制造工程和測(cè)試
電壓擺幅信號(hào)與多達(dá)8 Vpk -峰
為您的應(yīng)用選擇正確的探頭是關(guān)鍵,從而達(dá)到*佳的信號(hào)保真度的測(cè)量。有源探頭提供真實(shí)信號(hào)復(fù)制和高頻率的測(cè)量保真度。隨著我們的超低輸入電容和獨(dú)特的界面,TAP2500和TAP3500單端有源探頭提供上等場(chǎng)效應(yīng)管高速電氣和機(jī)械性能為當(dāng)今的數(shù)字系統(tǒng)設(shè)計(jì)要求。
專門(mén)設(shè)計(jì)用于直接連接到TekVPI探頭接口上使用的DPO7000和DPO4000系列示波器,主動(dòng)的TAP2500和TAP3500場(chǎng)效應(yīng)管探針實(shí)現(xiàn)三個(gè)傳統(tǒng)問(wèn)題解決高速信號(hào)采集和測(cè)量保真度:
下被測(cè)設(shè)備與≤0.8 pF的輸入電容和40 K負(fù)載量的影響輸入電阻
多功能被測(cè)設(shè)備連接用于連接到小型SMD器件
在保留為DPO7000和帶寬的DPO4000系列示波器探針
長(zhǎng)期出售/收購(gòu)進(jìn)口全新,二手儀器儀表:頻譜分析儀、網(wǎng)絡(luò)分析儀、信號(hào)發(fā)生器、萬(wàn)用表/示波器校準(zhǔn)儀、手機(jī)綜合測(cè)試儀、噪聲系數(shù)分析儀、數(shù)據(jù)采集器、NI-GPIB卡、阻抗/LCR測(cè)試儀、基站測(cè)試儀、音頻分析儀、藍(lán)牙/WANL測(cè)試儀、天饋線測(cè)試儀、光譜分析儀/光類儀器、功率計(jì)等各類儀器儀表!
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經(jīng)營(yíng)品牌
Keysight(原Agilent) 、TEKTRONIX(泰克)、ADVANTEST(愛(ài)德萬(wàn))、ANRITSU(安立)、R/S(羅德施瓦茨)、MARCONI(馬可尼)、FLUKE(福祿克)、GOODWILL(固緯)、KIKUSUI(菊水)、NATIONAL(松下)、KENWOOD(健伍)、HITACHI(日立)、NI等。